使用 AT5600 进行诊断测试

新功能 - 在测试失败时收集额外的测试数据

仅在需要时收集额外数据来调查故障。

AT5600 是 Voltech 磁性测试仪系列中首款包含自动诊断或“故障测试”功能的产品。

这指定了仅当主测试程序失败时才运行的一组附加测试。
指定诊断测试可以捕获有价值的故障模式信息并将其输入到您的质量控制系统中，同时保持生产线的生产力和吞吐量。

为什么我应该使用诊断测试？

您的生产测试策略将旨在实现生产线的最大吞吐量和生产率。

但是，如果某个单元未通过主程序中的测试，您的质量控制系统将需要有关失败原因的更详细信息。

请考虑以下两个示例用例。

用例 1：测试具有多个次级的变压器

对于具有多个次级绕组的变压器，常见的高生产率测试策略是在初级绕组和所有三个次级绕组之间同时执行耐压测试。但是，如果某个单元未通过该测试，您将需要进一步确定哪个绕组有问题。
例如，电源变压器可能有一个初级和三个次级，用于将 240V 转换为 1、5V、12V 和 5V。

传统的测试策略会按顺序在初级和每个次级之间执行耐压测试，以验证设备的安全一致性（图 1）。

安全标准通常规定此类测试的停留时间，每次测试可能需要 10 秒，因此耐压测试总时间为 30 秒。

更高生产率的策略是使用 AT5600 同时执行所有三个耐压测试，将每个单元的常规测试时间从 30 秒缩短至 10 秒（图 2）。

如果设备通过，则无需执行任何其他操作。
如果测试失败， AT5600 诊断测试功能可用于执行 3 项单独的 HI-POT 测试来确定资格并详细了解失败情况。

通过这种方式，AT5600 提供了“两全其美”：快速安全测试：准确的故障诊断和 QA 信息。

用例 2：测试多个分立变压器

AT5600 允许多达 20 个四线连接。
因此，可以使用适当的测试夹具同时测试五个简单的两绕组、四针变压器（例如脉冲变压器）。
这不仅可以缩短测试时间，还可以提高将零件装载到夹具上的时间效率（图 3）。

在这种情况下，主要测试程序将被设计为单独测试变压器，以实现更简单（更快）的电阻、串联电感和匝数比测量；然后在所有五个设备上运行需要同时驻留时间的测试（例如 Hi-pot）（即所有初级设备为 HI，所有次级设备为 LO）。

仅当组合测试失败时，才需要运行单独的耐压测试来检测是哪个部件导致了故障。
诊断测试现在允许您执行此操作。

如何编写诊断测试程序？

最新版本的Voltech AT EDITOR 软件（V3.44.00 及更高版本）可以轻松指定诊断测试。

您可以指定在主测试程序中测试失败时要运行的任何测试序列。

只需单击“诊断测试”选项卡并选择您需要的诊断测试规范。

诊断测试可以在我的 AT3600 / ATi 测试仪上运行吗？

诊断测试功能仅在 AT5600 上可用。 AT3600 或 ATi 不提供此功能。

但是，您仍然可以使用为 AT5600 开发的测试程序与上一代 Voltech 设备。主测试程序将在较旧的测试仪上运行，并且诊断测试将被忽略。

这种通用编程方法简化了测试程序的生成和维护，并且可以轻松构建包含 AT5600、AT3600 或 ATi 测试仪任意组合的测试环境。