Tests de diagnostic avec l'AT5600
Nouvelle fonctionnalité : collecte de données de test supplémentaires en cas d'échec du test
Collectez des données supplémentaires pour enquêter sur les pannes uniquement lorsque cela est nécessaire.
L'AT5600 est le premier de la gamme de testeurs magnétiques de Voltech à inclure une fonction de diagnostic automatique ou de « test en cas d'échec ».
Cela désigne un ensemble de tests supplémentaires à exécuter uniquement si le programme de test principal échoue.
La spécification de tests de diagnostic permet de capturer des informations précieuses sur les modes de défaillance et de les alimenter dans votre système de contrôle qualité, tout en maintenant la productivité et le débit de la ligne de fabrication.
Pourquoi devrais-je utiliser des tests diagnostiques ?
Votre stratégie de test de production sera conçue pour un débit et une productivité maximum sur la ligne de fabrication.
Mais dans le cas où une unité échoue aux tests du programme principal, votre système de contrôle qualité aura besoin d'informations plus détaillées sur les raisons de l'échec.
Veuillez considérer les deux exemples de cas d’utilisation suivants.
Cas d'utilisation 1 : test d'un transformateur avec plusieurs secondaires
Une stratégie de test courante à haute productivité pour un transformateur avec plusieurs secondaires consiste à effectuer des tests Hi-Pot simultanés entre le primaire et les trois secondaires. Mais si une unité échoue à ce test, vous devrez aller plus loin et déterminer quel enroulement est défectueux.
Par exemple, un transformateur d'alimentation secteur peut avoir un primaire et trois secondaires, utilisés pour convertir 240 V en 1,5 V, 12 V et 5 V.
Une stratégie de test traditionnelle consisterait à effectuer un test Hi-pot entre le primaire et chaque secondaire de manière séquentielle, pour vérifier la conformité de sécurité de l'unité (Figure 1).
Les normes de sécurité spécifient généralement un temps de maintien pour de tels tests, nécessitant peut-être 10 secondes par test, et donc un temps de test Hi-pot total de 30 secondes.
Une stratégie de productivité plus élevée consisterait à utiliser l'AT5600 pour exécuter les trois tests Hi-pot simultanément, réduisant ainsi le temps de test de routine de 30 à 10 secondes par unité (Figure 2).
Si l'appareil passe le test, aucune action supplémentaire n'est requise.
Si le test échoue, la fonction de test de diagnostic AT5600 peut être utilisée pour effectuer les 3 tests HI-POT individuels afin de qualifier et de comprendre l'échec en détail.
De cette façon, l'AT5600 offre « le meilleur des deux mondes » : des tests de sécurité rapides , des diagnostics précis et des informations d'assurance qualité en cas de panne.
Cas d'utilisation 2 : test de plusieurs transformateurs discrets
L'AT5600 permet jusqu'à 20 connexions à quatre fils.
Il est donc possible de tester simultanément cinq transformateurs simples à deux enroulements et quatre broches (par exemple des transformateurs d'impulsions) à l'aide d'un dispositif de test approprié.
Cela permet non seulement de réduire le temps de test, mais également de rendre le chargement des pièces sur le montage plus efficace en termes de temps (Figure 3).
Dans ce cas, le programme de test principal serait conçu pour exercer les transformateurs individuellement pour les mesures plus simples (et plus rapides) de résistance, d'inductance série et de rapport de tours ; puis exécuter des tests (tels que Hi-pot) qui nécessitent des temps de maintien simultanément sur les cinq appareils (c'est-à-dire tous les primaires comme HI à tous les secondaires comme LO).
Ce n'est que si le test combiné échoue qu'il est nécessaire d'exécuter des tests Hi-pot individuels pour détecter laquelle des pièces a causé la défaillance.
Le test de diagnostic vous permet désormais de le faire.
Comment programmer des tests de diagnostic ?
La dernière version du logiciel AT EDITOR de Voltech (V3.44.00 et supérieure) facilite la spécification des tests de diagnostic.
Vous pouvez spécifier n'importe quelle séquence de tests à exécuter en cas d'échec de test dans le programme de test principal.
Cliquez simplement sur l’onglet « Tests de diagnostic » et sélectionnez les spécifications de test de diagnostic dont vous avez besoin.
Les tests de diagnostic fonctionneront-ils sur mon testeur AT3600 / ATi ?
La fonction de test de diagnostic est disponible uniquement sur l'AT5600. Elle n'est pas proposée par l'AT3600 ou l'ATi.
Vous pouvez néanmoins utiliser les programmes de test développés pour l'AT5600 avec les équipements Voltech de génération précédente. Le programme de test principal s'exécutera sur les testeurs plus anciens et les tests de diagnostic seront tout simplement ignorés.
Cette approche de programmation commune simplifie la génération et la maintenance des programmes de test et facilite la création d’environnements de test contenant n’importe quelle combinaison de testeurs AT5600, AT3600 ou ATi.
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