Test diagnostici con l'AT5600

Nuova funzionalità: raccoglie dati di test aggiuntivi in caso di fallimento del test

Raccogli dati aggiuntivi per indagare sugli errori solo quando necessario.

L'AT5600 è il primo della gamma di tester magnetici Voltech a includere una funzione diagnostica automatica o "test in caso di guasto".

Ciò designa una serie di test aggiuntivi da eseguire solo se il programma di test principale fallisce.
La specificazione dei test diagnostici consente di acquisire preziose informazioni sulla modalità di guasto e di inserirle nel sistema di controllo qualità, mantenendo la produttività e il rendimento della linea di produzione.

Perché dovrei utilizzare i test diagnostici?

La tua strategia di test di produzione sarà progettata per la massima produttività e produttività nella linea di produzione.

Ma nel caso in cui un'unità non superi i test del programma principale, il sistema di controllo qualità avrà bisogno di informazioni più dettagliate sulle ragioni del fallimento.

Si prega di considerare i seguenti due casi d'uso di esempio.

Caso d'uso 1: test di un trasformatore con più secondari

Una strategia comune di test ad alta produttività per un trasformatore con più secondari consiste nell'eseguire test Hi-Pot simultanei tra il primario e tutti e tre i secondari. Ma se un'unità non supera il test, ti consigliamo di andare oltre e accertare quale avvolgimento è difettoso.
Ad esempio, un trasformatore di alimentazione di rete potrebbe avere un primario e tre secondari, utilizzati per convertire 240 V in 1,5 V, 12 V e 5 V.

Una strategia di test tradizionale eseguirebbe un test Hi-pot tra il primario e ciascun secondario in modo sequenziale, per verificare la conformità della sicurezza dell'unità (Figura 1).

Gli standard di sicurezza in genere specificano un tempo di permanenza per tali test, che richiede forse 10 secondi per test, e quindi un tempo totale di test Hi-pot di 30 secondi.

Una strategia di maggiore produttività sarebbe quella di utilizzare l'AT5600 per eseguire simultaneamente tutti e tre i test Hi-pot, riducendo il tempo dei test di routine da 30 a 10 secondi per unità (Figura 2).

Se il dispositivo passa, non è richiesta alcuna azione aggiuntiva.
Se il test fallisce, è possibile utilizzare la funzione Test diagnostico dell'AT5600 per eseguire i 3 singoli test HI-POT per qualificarsi e comprendere il guasto in dettaglio.

In questo modo l'AT5600 fornisce "il meglio di entrambi i mondi": test di sicurezza rapidi , diagnostica accurata e informazioni di QA per i guasti.

Caso d'uso 2: test di più trasformatori discreti

L'AT5600 consente fino a 20 connessioni a quattro fili.
È quindi possibile testare contemporaneamente cinque semplici trasformatori a due avvolgimenti e quattro pin (ad esempio trasformatori di impulsi) utilizzando un dispositivo di prova appropriato.
Ciò non solo riduce i tempi di prova, ma rende più efficiente il caricamento delle parti sull'attrezzatura (Figura 3).

In questo caso il programma di test principale sarebbe progettato per esercitare i trasformatori individualmente per le misurazioni più semplici (e più veloci) di resistenza, induttanza in serie e rapporto spire; quindi eseguire test (come Hi-pot) che richiedono tempi di permanenza simultanei su tutti e cinque i dispositivi (ovvero tutti i primari come HI e tutti i secondari come LO).

Solo se il test combinato fallisce è necessario eseguire singoli test Hi-pot per rilevare quale delle parti ha causato il guasto.
Il test diagnostico ora ti consente di farlo.

Come posso programmare i test diagnostici?

L'ultima versione del software AT EDITOR di Voltech (V3.44.00 e successive) semplifica la specifica dei test diagnostici.

È possibile specificare qualsiasi sequenza di test da eseguire in caso di fallimento del test nel programma di test principale.

Basta fare clic sulla scheda "Test diagnostici" e selezionare le specifiche del test diagnostico richieste.

I test diagnostici funzioneranno sul mio tester AT3600/ATi?

La funzione test diagnostico è disponibile solo sull'AT5600. Non è offerto dall'AT3600 o dall'ATi.

Tuttavia, è ancora possibile utilizzare i programmi di test sviluppati per l'AT5600 con apparecchiature Voltech della generazione precedente. Il programma di test principale verrà eseguito sui tester più vecchi e i test diagnostici verranno semplicemente ignorati.

Questo approccio di programmazione comune semplifica la generazione e la manutenzione del programma di test e facilita la creazione di ambienti di test che contengono qualsiasi combinazione di tester AT5600, AT3600 o ATi.