Test diagnostici con AT5600
Nuova funzionalità: raccoglie dati di test aggiuntivi in caso di errore del test
Raccogli dati aggiuntivi per indagare sui guasti solo quando necessario.
L'AT5600 è il primo tester magnetico della gamma Voltech a includere una funzione di diagnosi automatica o "test in caso di errore".
In questo modo viene designata una serie di test aggiuntivi da eseguire solo se il programma di test principale fallisce.
Specificando test diagnostici è possibile acquisire informazioni preziose sulle modalità di guasto e immetterle nel sistema di controllo qualità, mantenendo al contempo la produttività e la produttività della linea di produzione.
Perché dovrei usare i test diagnostici?
La strategia di test di produzione sarà progettata per garantire la massima produttività e produttività nella linea di produzione.
Ma nel caso in cui un'unità non superi i test del programma principale, il sistema di controllo qualità avrà bisogno di informazioni più dettagliate sui motivi del fallimento.
Si considerino i seguenti due esempi di casi d'uso.

Caso d'uso 1: test di un trasformatore con più secondari
Una strategia comune di test ad alta produttività per un trasformatore con più secondari è quella di eseguire test Hi-Pot simultanei tra il primario e tutti e tre i secondari. Ma se un'unità non supera quel test, vorrai andare oltre e accertare quale avvolgimento è difettoso.
Ad esempio, un trasformatore di alimentazione di rete potrebbe avere un primario e tre secondari, utilizzati per convertire 240 V in 1,5 V, 12 V e 5 V.
Una strategia di test tradizionale prevede l'esecuzione di un test Hi-pot tra il primario e ciascun secondario in modo sequenziale, per verificare la conformità di sicurezza dell'unità (Figura 1).
Gli standard di sicurezza in genere specificano un tempo di permanenza per tali test, che richiede circa 10 secondi per test e quindi un tempo totale del test Hi-pot di 30 secondi.

Una strategia di maggiore produttività sarebbe quella di utilizzare l'AT5600 per eseguire tutti e tre i test Hi-pot simultaneamente, riducendo il tempo di test di routine da 30 a 10 secondi per unità (Figura 2).

Se il dispositivo supera il test, non è richiesta alcuna ulteriore azione.
Se il test fallisce, è possibile utilizzare la funzione di test diagnostico AT5600 per eseguire 3 test HI-POT individuali per qualificarsi e comprendere in dettaglio il fallimento.
In questo modo l'AT5600 offre "il meglio di entrambi i mondi": test di sicurezza rapidi , diagnosi accurata e informazioni QA per i guasti.
Caso d'uso 2: test di più trasformatori discreti
L'AT5600 consente fino a 20 connessioni a quattro fili.
È quindi possibile testare simultaneamente cinque semplici trasformatori a due avvolgimenti e quattro poli (ad esempio trasformatori a impulsi) utilizzando un apposito dispositivo di prova.
Ciò non solo riduce i tempi di prova, ma rende anche più efficiente il caricamento dei pezzi sul dispositivo (Figura 3).
In questo caso il programma di test principale sarebbe progettato per mettere alla prova i trasformatori individualmente per le misurazioni più semplici (e veloci) di resistenza, induttanza in serie e rapporto di spire; e quindi eseguire test (come Hi-pot) che richiedono tempi di permanenza simultaneamente su tutti e cinque i dispositivi (vale a dire tutti i primari come HI e tutti i secondari come LO).
Solo se il test combinato fallisce è necessario eseguire test Hi-pot individuali per rilevare quale parte ha causato il guasto.
Il test Diagnostico ora ti consente di farlo.


Come si programmano i test diagnostici?
L'ultima versione del software AT EDITOR di Voltech (V3.44.00 e successive) semplifica la specificazione dei test diagnostici.
Nel programma di test principale è possibile specificare qualsiasi sequenza di test da eseguire in caso di errore.
Basta cliccare sulla scheda “Test diagnostici” e selezionare le specifiche del test diagnostico desiderate.
I test diagnostici funzioneranno sul mio tester AT3600 / ATi?

La funzione Diagnostic Test è disponibile solo su AT5600. Non è offerta da AT3600 o ATi.
Tuttavia, puoi comunque usare programmi di test sviluppati per l'AT5600 con apparecchiature Voltech di precedente generazione. Il programma di test principale verrà eseguito sui tester più vecchi e i test diagnostici verranno semplicemente ignorati.
Questo approccio di programmazione comune semplifica la generazione e la manutenzione dei programmi di test e facilita la creazione di ambienti di test che contengono qualsiasi combinazione di tester AT5600, AT3600 o ATi.
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