AT5600 - 업데이트, 새로운 기능 및 개선 사항

2024년 8월 12일

AT5600 펌웨어 v1.004.074

테스트

MAGI VOC WATT - V<100V에서 테스트할 때 정확도를 높이기 위해 소스에서 과도한 DC를 트리밍하는 개선된 Class D 생성기 (OPP # 11254 )
STRX - STRX 정확도와 타이밍 버그가 수정되었습니다.
API - 원격으로 장치를 제어할 수 있는 새 API 릴리스 에 대한 최종 수정 사항입니다.
R - 저항 정확도 및 보고 개선
HPAC - HPAC 신호 레벨 보정 기능 추가 HPAC - HPAC에 대한 전압 범위 선택 기능 개선

보상
최고/최저 전류 및 최저 전압 범위에서 고정 보상. 션트 특정 OC 보상 추가 (OPP 12965/OPP 12982)

경고

앰프 + VOCX / MAGX / WATX / STRX
이 릴리스에는 외부 증폭기와 함께 AC 인터페이스를 사용하는 것과 관련된 뛰어난 문제도 포함되어 있습니다.
AC 인터페이스와 함께 자체 앰프를 사용하는 경우 이 펌웨어를 설치하지 마십시오.
이 문제는 다음 릴리스에서 해결될 문제입니다.

향후 개선 사항
LL - 500nH 미만의 매우 낮은 누설을 개선했습니다.
SYNC PARTS - RS232를 통해 450개 이상의 프로그램 이름을 서버와 동기화할 때 발생하는 버그
D, LP, LS, Q, RLS, RLP - 매우 낮은 주파수(<100 HZ) 및 매우 높은 주파수(>100 kHz)에서 정확도를 개선하기 위한 작업
E-dt - 펄스 변압기용 새로운 볼트 uSec 테스트..

2023년 10월 25일

AT5600 펌웨어 v1.004.061

그래픽 사용자 인터페이스(GUI)
고정 서버 중복 일련 번호/배치 문제(OPP 11819)
바코드 또는 키보드를 통한 "수락/입력" 명령으로 처리되는 고정 X 문자(OPP 11890)

테스트
HPAC 고정 HPAC 보상
HPDC가 트립이 발생한 경우 HPDC가 3400 상태 코드를 보고하도록 강제
ILK 개방 회로 보상 수행 시 ILK 고정 장치 재부팅
MAGI 고정 MAGI 평균 감지 RMS가 음수 값을 측정
MAGI 개방 회로 보상에서 클래스 D 단락 회로 감지 개선
MAGX 고정 저전압 클래스 D 테스트가 단락 재설정으로 전환됨
PWRF 고정 PWRF 테스트 OC Comp 실패
R 고정 DCR 간헐적 오류
R 고정 DCR 대형 저항 권선에 대한 매달림 문제(OPP11532)
SURG 일부 서지 값이 <5% 낮게 측정되는 문제를 수정했습니다.
일부 LL 테스트를 위한 LL 고정 발전기 유형 매핑(OPP 10945)

미래 개발 - 곧 출시
LL LS - 보상 버그 수정 - 고정된 10mA 테스트 신호를 사용할 때 일부 극단적인 경우 보상이 실패할 수 있습니다.
LL - 500nH 미만의 매우 낮은 누설을 개선했습니다.
MAGI - 대형 변압기의 테스트 시간 개선
SYNC PARTS - RS232를 통해 450개 이상의 프로그램 이름을 서버와 동기화할 때 발생하는 버그
E-dt - 펄스 변압기용 새로운 볼트 uSec 테스트..
API - 사용자의 소프트웨어를 통해 AT5600을 직접 제어할 수 있는 새로운 API 소프트웨어 라이브러리입니다.

2023년 7월 25일

AT5600 펌웨어 v1.004.052 / 사용자 매뉴얼 V25

그래픽 사용자 인터페이스(GUI)
OPP 8973 재설정 시 활성 테스트 이름이 "CTY"로 점프하는 문제가 해결되었습니다.
FPMM 키 코드 지원 및 소프트 키 액세스 추가(향후 릴리스)

셀프 테스트
강화된 서지 자체 테스트
모든 테스트를 통과했을 때 가끔씩 나타나는 자체 테스트 전반적 실패를 수정했습니다.
자가 테스트 컨디셔닝 루틴을 제거합니다.
GN02 및 GN12 자체 테스트 타이밍에 불포화 기능이 추가되었습니다.

보상
션트 보상 대신 개별 범위 조합을 저장하는 개선된 보상 저장 기능이 추가되었습니다.
보상 저장을 간소화하여 프로그램 다운로드 속도를 개선했습니다.
인덱싱이 개선되면 프로그램 로드 속도가 빨라집니다.
많은 수의 보상이 저장되어 있으면 프로그램 로드가 느렸습니다. 지연은 통신이 아니라 로드 후 COMP 리콜이었습니다.
참고 사항 - 이 업그레이드는 이전에 저장된 모든 SC+OC 보상도 장치에서 삭제합니다. OPP11165
임피던스 보상 속도를 향상시킵니다.
적분 임피던스 대신 적분 전압과 전류의 비율을 사용하여 개방 회로 보상을 개선합니다.
이렇게 하면 가끔씩 발생하는 OC comp 오류 OPP 11173, 11154, 11237이 해결될 것입니다.
고정 HPAC, HPDC, ILK 및 MAGI 개방 회로 보상 응용 프로그램
단락 보상에 대한 합격/불합격 보고가 개선되었습니다.

테스트
API 고정 결과가 API에 대한 서버로 반환됨(향후 릴리스)
API 고정 API가 바쁘지 않다고 보고함(향후 릴리스)
C2 고정된 음수 커패시턴스 일치(C2) 결과입니다.
ILK 누설 전류(ILK) 정확도 향상
ILK 조정된 저범위 구성을 통해 ILK에서 더 낮은 범위를 허용합니다.
ILK OC에 대한 100kOhm 션트에서 ILK 고정 보상 실패
IR IR 보상 고정
IR 고정 고전압 절연 저항 실행 시간.
IR 고정 저측 선택된 노드는 단락 시 가끔 발생하는 100GOHM을 교정하기 위한 절연 저항 테스트용입니다. OPP11325
LL LL 역방향 전원 공급이 고정되었습니다.
LL 누설 인덕턴스 OPP11243 의 속도 및 정확도 향상
LSB LPB ZB는 새로운 보상 모델을 사용하기 위해 내부 바이어스 실행을 전환했습니다.
LSB LPB ZB 내부 바이어스에 대한 고정 트리밍 오류
LSB LPB ZB 고전류 범위에 대한 고정 임피던스 보상
LSBX 외부 바이어스 단락 회로 보상에서 건너뛴 측정에 대한 유형별 개방 회로 보상 및 바이패스를 추가했습니다.
MAGI MAGI의 안정성과 정확성이 개선되었습니다.
MAGI는 DC 오프셋 트리밍 루틴을 추가하여 클래스 D 테스트 성능을 개선했습니다.
MAGI MAGI 실행 속도가 향상되었습니다.
R 고정 개방 회로 저항이 1uOhms를 보고합니다. OPP11249, 10832
R R2 R, R2 및 CTY의 최적화된 컴파일로 실행 속도 및 보상 시간 향상
R2 테스트에서 측정값을 재사용하여 발생한 오류를 수정했습니다.
R2 저항 매칭(R2) 보상 적용이 고정되었습니다.
STRX STRX 테스트 시간 초과 수정됨
SURG 서지 크기 학습이 개선되었습니다.
단 하나의 임펄스 보고를 포함하는 SURG 고정 서지 테스트
SURG Surge 학습 단순화
SURG 서지 크기 학습 알고리즘을 개선했습니다.
VOC 고정 VOC 테스트로 인해 장치 재부팅 발생. 이전에 중앙 탭 부품의 특정 테스트 사례는 40-60Hz에서 재부팅을 일으킬 수 있음 OPP11075

알려진 문제 - 현재 다음 릴리스를 위해 해결 중입니다.
OC 보상 - 이 버전에서는 소수의 유닛이 실수로 OC 보상 실패를 보고할 수 있습니다.
현재 이 문제를 해결 중입니다.
이 문제가 발견되면 저희에게 연락해 주시기 바랍니다.

미래 개발 - 곧 출시
전면 패널 측정 모드 - 전면 패널에서 개별 테스트를 실행합니다.
E-dt – 펄스 변압기용 볼트 uSec 테스트..
API - 사용자의 소프트웨어를 통해 AT5600을 직접 제어할 수 있는 소프트웨어 라이브러리입니다.

2023년 1월 31일

AT5600 펌웨어 v1.004.028 / 사용자 매뉴얼 v24

셀프 테스트
자가 테스트 - 장치가 기능적으로 양호할 때 일부 자가 테스트에서 발생하는 몇몇 거짓 실패를 수정합니다(일반적으로 ID #1011, 2023, 2023, 4041).

2022년 11월 11일

AT5600 펌웨어 v1.004.012 / 사용자 매뉴얼 v23

인터페이스 / GUI
사운드 - 더 나은 사용자 경험을 제공하기 위한 보상으로 합격/불합격을 나타내는 경고음을 추가했습니다. 합격/불합격 사운드 실행과 동일한 설정을 따릅니다.
DC1000 오류 코드 - 일부 DC1000 오류 코드가 잘못 표시되는 버그를 수정했습니다.

셀프 테스트
ID 1021 - 거짓 실패를 막기 위해 셀프 테스트 ID 1021에 대한 한계를 조정했습니다.
결함이 있는 하드웨어에서 발생하는 무한 자체 테스트 시간 문제를 해결했습니다.

테스트
R - 저항에 대한 개선된 보상 프로세스. 저항 단락 회로 보상을 위한 범위 잠금 추가.
R - 개선된 R 테스트 범위 선택 알고리즘. 이를 통해 R 테스트가 60초 이상 걸리거나 극단적인 경우 중단되는 것을 방지합니다.
HPDC - HPDC 테스트 실행 시 발생하는 과도한 시간을 수정했습니다.
HPAC - 매우 높은 주파수에 대한 AC-EHT 트립 레벨 향상.
HPAC - 일부 서버 결과에서 HPAC 테스트를 0020 오류 코드로 표시하는 문제를 일으키는 버그를 수정했습니다.
MAGI VOC WATT STRW - Class D 테스트 실행 개선. 모든 4개 테스트의 최대 WATT가 이제 AT3600과 일치하도록 40와트로 돌아왔습니다. AT Editor dotNET은 이미 최대 한도로 40W를 프로그래밍할 수 있도록 수정되었습니다.
WAIT - OUT과 함께 WAIT를 사용할 때 사용자 릴레이 버그를 재설정하는 WAIT 테스트가 해결되었습니다.

알려진 문제 - 개선 진행 중
HPDC - 0200에서 거짓 플래깅으로 인해 실패하는 경우가 있으며 테스트 시간은 30초입니다.